值得信赖的 SEM 图像分析软件
受到全球顶尖 SEM 制造商信赖,MountainsSEM® 软件是面向扫描电子显微镜图像分析的一套全面、专用解决方案。
兼容任何扫描电子显微镜
MountainsSEM® 包含哪些功能
SEM 图像着色与增强
■ 快速、轻松地为您的 SEM 图像添加颜色
■ 应用图像校正与增强工具
基于多张 SEM 图像的 3D 重建
■ 快速重建 3D 表面形貌
■ 通过样品的两次连续倾斜扫描,获得精确的高度数值并评估表面粗糙度
■ 也可基于使用多分段探测器获得的三张或四张图像进行重建
纤维分析
■ 即使纤维相互重叠,也可对单根纤维进行定量分析
■ 计算纤维的直径与取向
■ 使用专为 SEM 设计的纤维检测算法
利用 EDS/EDX 数据创建 3D 化学图谱
■ 将 EDS 图谱或其他光谱/成分数据与由 SEM 图像重建得到的形貌相结合,生成出色的 3D 渲染结果
体积电子显微镜分析
■ 以立方体形式加载、显示并分析体积电子显微镜图像序列(FIB-SEM、连续切块面 SEM、阵列断层成像等)
■ 将 3D 成像与化学分析相关联
二维颗粒分析
■将强大的颗粒分析工具应用于您的 SEM 数据,并借助 AI 与 SEM 专用对象识别技术,自动识别并量化图像中的特征
相关分析
■ 将来自不同探测器的 SEM 图像,或与 AFM 等其他测量仪器的数据相结合
■ 将您的 SEM 图像与光谱分析数据进行共定位
Mountains® 软件核心优势
表面成像与计量专长
凭借数十年为全球工业界与科研界开发分析软件的经验,Digital Surf 专注于依据 ISO 标准(如轮廓仪所采用的标准)进行表面纹理分析,以及显微/光谱数据分析。
全程可追溯
MountainsSEM® 独特的交互式分析工作流程使用户能够查看并修改已应用于数据的全部分析步骤,并可在任何时候回退到流程中的任一步骤。
适用于各种技术,深受制造商信赖
加入全球数以万计的 Mountains® 用户行列,使用受到领先制造商和国家级研究实验室信赖的分析软件。
具有文档布局的科学软件
可在一页或多页中组织图像分析的不同步骤,并导出为 PDF 或 Word,以便与同事、学生、客户等共享。
使用您的语言工作并获得帮助
可使用 Mountains® 用户界面提供的 11 种语言之一进行工作,并从我们的国际支持团队获得应用支持。
强大的自动化功能
使用无代码工具自动化重复性工作,加快分析流程。
保存分析序列,并自动重新应用于大批量数据。
借助内置统计工具加速分析。
选择适合您的 MountainsSEM® 产品
| 功能 | Premium | Expert | 图像分析版 | 着色版 |
|---|
| 快速 SEM 图像着色 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
| 基础分析与测量工具 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
| 图像校正与增强工具 | ✓ | ✓ | ✓ | ✓ |
| EDS/EDX 图谱叠加 | ✓ | ✓ | ✓ | X |
| 基于两张或四张 SEM 图像的超快速 3D 重建 | ✓ | ✓ | X | X |
| 单张 SEM 图像的即时 3D 增强 | ✓ | ✓ | X | X |
可选模块
| 模块 | Premium | Expert | 图像分析版 | 着色版 |
|---|
| 二维颗粒分析与表征 | ✓ | 可选 | ✓ | 可选 |
| 相关显微分析 | ✓ | ✓ | 可选 | X |
| 纤维分析 | ✓ | 可选 | 可选 | 可选 |
| 轮廓分析 | ✓ | 可选 | 可选 | 可选 |
| 体积电子显微镜立方体可视化与分析 | ✓ | 可选 | X | X |
| Shells(自由曲面)支持 | ✓ | 可选 | X | X |
| 临界尺寸与沟槽分析 | 可选 | 可选 | 可选 | 可选 |
| 高级轮廓分析 | 可选 | 可选 | X | X |
| 高级形貌分析 | 可选 | 可选 | X | X |
| 傅里叶与小波分析 | 可选 | 可选 | X | X |
| 光谱分析 | 可选 | 可选 | X | X |
| 厚度分析 | 可选 | 可选 | X | X |
| 4D 表面变化分析 | 可选 | 可选 | X | X |